Rentgenová fluorescenční spektrometrie (XRF)
Přesná kvantifikace prvků Mg, Al, Si, P, S, Ti, V, Cr, Mn, Fe, Co, Ni, Cu, Zn, W, Hf, Ta, Re, Pb, Bi, Zr, Nb, Mo, Pd, Ag, Cd, Sn, Sb, Sr. Měření bez nutnosti předchozí kalibrace a znalosti druhu materiálu.
Zařízení: VANTA V2CR
Velikost vzorků: měření spotem 3 nebo 10 mm
Kontakt: Analytická laboratoř